ft-361 阻 双电四探针 测试仪 一、概述：本品为解决四探针法测试阻材料方阻及电阻率，小可以测试到 1uω 方阻值，是目前同行业中能测量到的小值，采用高精度 ad 芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表； 本仪器采用 4.3 吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购 . 双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 a.s.t.m 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。 选购：本机还可以配合各类环境温度试验箱体使用，通过不同的测量治具满足不同环境温度下测量方阻和电阻率的需求 . 二、广泛用于：覆盖膜 ; 导电高分子膜，高、低温电热膜 ; 隔热、防辐射导电窗膜 导电 ( 屏蔽 ) 布、装饰膜、装饰纸 ; 金属化标签、合金类箔膜 ; 熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜 ; 电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试 硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、 ito 导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻 半导体材料 / 晶圆、太阳能电池、电子元器件，导电薄膜（ ito 导电膜玻璃等），金属膜，导电漆膜，蒸发铝膜， pcb 铜箔膜， emi 涂层等物质的薄层电阻与电阻率 导电性油漆，导电性糊状物，导电性塑料，导电性橡胶，导电性薄膜，金属薄膜，抗静电材料， emi 防护材料，导电性纤维，导电性陶瓷等 三、参数资料 1. 方块电阻范围： 10 -6 ～ 2 × 10 2 ω/□ 2. 电阻率范围： 10 -7 ～ 2 × 10 3 ω-cm 3. 测试电流范围： 0.1μa ， 1μa ， 10μa ， 100µa. 4. 电流精度： ±0.1% 读数 5. 电阻精度： ≤0.3% 6. 显示读数： 液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率 . 7. 测试方式 : 双电测量 8. 工作电源 : 输入 : ac 220v±10% ,50hz 功 耗： <30w 9. 整机不确定性误差 : ≤4% （标准样片结果） 10. 选购功能 : 选购 1.pc 软件； 2. 方形探头； 3. 直线形探头； 4. 测试平台 11. 测试探头： 探针间距选购： 1mm ； 2mm ； 3mm 三种规格 ; 探针材质选购：碳化钨针 ; 白钢针；镀金磷铜半球形针